标准化动态

2019年低维纳米标准化工作组年会在西安隆重召开


11月16日下午,在LDMAS2019期间,第三届全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组年会及委员扩大会议在西安广成大酒店召开。会议对全国纳标委低维工作组2019年的重要工作进行了总结和梳理,并对一项国家标准项目开展了意见征集。会议还对纳标委低维工作组2020年的工作重点进行了建议和部署。全国纳标委秘书长、国家纳米科学中心王孝平研究员,全国纳标委副主任、国家纳米科学中心研究员葛广路等领导出席。
会议由全国纳标委低维工作组副主任委员、泰州巨纳新能源有限公司董事长丁荣主持,全国纳标委低维工作组秘书长梁铮教授首先对全国纳标委低维工作组(下简称低维工作组)2019年的重点工作做了汇报。
丁荣
梁铮
2019年,低维工作组共征集了6项国家标准参加国家标准管理委员会的立项答辩,其中《2017LD02 检测方法 纳米技术 石墨烯比表面积测量方法——固体标样参比法》、《2017LD10 检测方法 纳米技术 拉曼法测定石墨烯中缺陷含量》、《2017LD15 检测方法 纳米技术 小尺寸纳米结构薄膜拉伸性能测定方法》、《2017LD27 检测方法 纳米技术 低场核磁共振测量石墨烯材料湿式比表面积的方法 》四项已成功结束公示。此外,低维工作组还在2019年新征集国家标准项目2项,组织申报IEC标准项目2项,并初步完成了以低维纳米碳材料、低维纳米材料结构表征、低维纳米材料性能测试为核心的低维纳米结构与性能标准化体系建设。
年会还开展了对《纳米技术 石墨烯及相关二维材料的层数测量 光学对比度法》国家标准项目的意见征集,第一起草人东南大学倪振华教授对标准做了介绍。石墨烯及具有类似结构的相关二维材料的层数与其性能密切相关,光学对比度法是测定相关二维材料层数的一种快速、无损、高灵敏度的方法,本标准规定了光学对比度法测量石墨烯及相关二维材料层数过程中的步骤、仪器参数要求、数据分析、层数判定准则等。适用于晶体质量高、具有微米级尺寸的、层数不多于5层的均匀石墨烯薄膜及石墨烯薄片,且不适用径向尺寸小于2微米或的结构缺陷多、晶体质量差的上述物质。标准所规定的仪器设备为正置或倒置光学显微镜(明场,100倍镜头)和可成彩色像的电荷耦合装置(CCD)。
年会上,与会领导、专家、委员、成员们畅所欲言,对《纳米技术 石墨烯及相关二维材料的层数测量 光学对比度法》国家标准和低维工作组下阶段的重点工作提出意见与建议。

王孝平秘书长总结发言,他充分肯定了低维材料组2019年的突出成绩,并对工作组下一步的工作重心提出要求:一是要继续聚焦真正对纳米产业发展有贡献的标准征集与申报;二是继续大力推动低维纳米材料领域的标准建设工作,特别是要加强相关国际标准的制定;三是进一步完善标准化体系的建设工作。他表示,全国纳标委将继续大力支持低维工作组的各项工作,共同促使我国低维纳米标准化工作再上一个台阶。
王孝平秘书长



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